測量原理

　　原 理：

　　導波雷達發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質的距離成正比。

　　特 點：

　　由于采用了*的微處理器和*的choDiscovery回波處理技術，導波雷達物位計可以應用于各種復雜工況。

　　多種過程連接方式及探測組件的型式，使得DDKJ700系列導波雷達物位計適用于各種復雜工況及應用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質等。

　　采用脈沖工作方式，導波雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體及環(huán)境均無傷害。

　　說 明：

　　導波雷達是基于時間行程原理的測量儀表，雷達波以光速運行，運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。探頭發(fā)出高頻脈沖并沿纜式或桿式探頭傳播，當脈沖遇到物料表面時反射回來被儀表內的接收器接收，并將距離信號轉化為物位信號。

　　反射的脈沖信號沿纜式或桿式探頭傳導至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由脈沖軟件完成，距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T　　成正比：

　　D=C×T/2

　　其中C為光速

　　因空罐的距離E已知，則物位L為：

　　L=E-D

　　通過輸入空罐高度E（=低點），滿罐

　　高度F（=滿量程）及一些應用參數(shù)來設定，應用參數(shù)將自動使儀表應測量環(huán)境，對應于4－20mA輸出。

　　測量范圍：

　　說明：

　　H----測量范圍

　　L----空罐距離

　　B----頂部盲區(qū)

　　E----探頭到罐壁的很小距離

　　頂部盲區(qū)是指物料很高料面與測量參考點之間的很小距離。

　　底部盲區(qū)是指纜繩很底部附近無法精確測量的一段距離。

　　頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間是有效測量距離。

　　注意：

　　只有物料處于頂部盲區(qū)和底部盲區(qū)之間時，才能保證罐內物位的可靠測量。

　　產品簡介

　　適用介質：液體，特別是強腐蝕性的液體

　　應 用：酸類、堿類或其它腐蝕性介質測量

　　防爆認證：Exia IIC T6 Ga/ Exd ia IIC T6 Gb

　　測量范圍：20m

　　頻 率：500MHz-1.8GHz

　　天 線：全四氟密封纜式或桿式天線

　　測量精度：±10mm

　　過程溫度：（-40～200）℃

　　過程壓力：（-0.1～4）MPa

　　信號輸出：（4～20）mA/HART

　　現(xiàn)場顯示：四位LCD 可編程

　　電 源：兩線制（DC24V）/四線制（DC24V/AC220V）

　　外 殼：鋁/ 塑料

　　過程連接：螺紋/法蘭（選配）