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          產(chǎn)品|公司|采購|資訊

          冷熱沖擊測試設備,電子電路板高低溫沖擊試驗儀器

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱廣東宏展科技有限公司
          • 品       牌
          • 型       號TS
          • 所  在  地東莞市
          • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
          • 更新時間2022/4/26 11:32:56
          • 訪問次數(shù)155
          產(chǎn)品標簽:

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          廣東宏展科技有限公司,注冊資本:人民幣壹仟萬元,公司自2005年創(chuàng)立以來,專職于環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱的生產(chǎn)與研發(fā),我們在環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱領域里,不遺余力。是目前我國生產(chǎn)環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱的重點企業(yè),是東莞市民營科技企業(yè)、廣東省民營科技企業(yè)、國家*。宏展以‘環(huán)境模擬’為自己的經(jīng)營課題,以「追求*」、「開創(chuàng)新局」為使命。積累了更多的專業(yè)經(jīng)驗與技術,在制程方面不斷的開發(fā)更*的環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱產(chǎn)品,以自主性技術及優(yōu)良的制程站穩(wěn)市場。 在「質(zhì)」與「值」的堅持,我們從不妥協(xié)! 宏展為自己能夠為世界范圍內(nèi)的用戶設計、制造*的環(huán)境試驗箱及工業(yè)烤箱而自豪。產(chǎn)品包括: 紫外光加速老化試驗機、可程式恒溫恒濕試驗機、可程式恒溫試驗機、桌上型恒溫恒濕試驗機、步入式恒溫恒濕試驗室、冷熱沖擊試驗機、高溫老化房、紫外光耐氣候試驗箱、低溫試驗箱、小型低溫試驗箱、超低溫實驗箱、高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、低溫恒溫恒濕試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、、高低溫試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、溫度沖擊試驗箱、快速溫度變化試驗箱、步入式環(huán)境試驗室、溫濕度試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、臺式濕熱試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、步入式高低溫交變濕熱試驗室、鹽霧試驗箱、標準高溫試驗箱、小型高溫試驗箱、真空高溫試驗箱、無塵高溫試驗箱、防爆型高溫試驗箱、超高溫試驗箱、厭氧型高溫試驗箱、熱老化高溫試驗箱、精密熱風循環(huán)烤箱、無氧化熱風循環(huán)烤箱、無塵熱風循環(huán)烤箱,高溫工業(yè)烤箱等系列產(chǎn)品。 宏展集團股份有限公司總部位于香港,是一家業(yè)務涉及領域非常廣闊的大型跨國企業(yè),為用戶提供產(chǎn)品和材料技術方面廣泛、多元化的技術服務,其涉及領域包括炭材料加工和制陶技術、環(huán)境工程和空調(diào)、金屬燒結(jié)技術、超聲波和琺瑯工程等等。旗下包括:HONGZHAN;HORNGJAAN;Q8;JEIOTECH;CHUNYEN;THERMOTEST;NABERTHERM品牌及8家子公司。宏展經(jīng)過多年的努力,產(chǎn)品已廣范應用于汽車制造、航空航天、電子通訊、醫(yī)療衛(wèi)生和石油化工、*制造及科研院校等眾多領域。宏展也已成為中國環(huán)境試驗設備行業(yè)潮流的杰出*,產(chǎn)品獲得了賽寶實驗室、中國計量測試中心、中國*、*、北京博物館、清華大學、浙江大學、湖南大學、中南大學、四川大學、華南理工、上海交大、西安交大、吉林大學、哈爾濱工業(yè)大學、南京大學、河海大學、富士康科技、一汽大眾、光聯(lián)通訊、阿爾卡特、金立通訊、廣博集團、施耐德、蘇泊爾、華為技術、艾默生、格力電器、雅圖仕、嘉寶莉……等客戶的好評。 地球*停止的運轉(zhuǎn),即在提供萬物生存之環(huán)境,宏展兢兢業(yè)業(yè)的經(jīng)營,目的在為企業(yè)創(chuàng)造永續(xù)經(jīng)營的空間,更深信*企業(yè)永續(xù)經(jīng)營之道在于以顧客*的服務態(tài)度,滿足顧客需求,并重視人才、技術與教育之培育,同心協(xié)力積極進取謀求顧客、代理商及全體員工之共存共榮。

          紫外光加速老化試驗機、可程式恒溫恒濕試驗機、可程式恒溫試驗機、桌上型恒溫恒濕試驗機、步入式恒溫恒濕試驗室、冷熱沖擊試驗機、高溫老化房、紫外光耐氣候試驗箱、低溫試驗箱、小型低溫試驗箱、超低溫實驗箱、高低溫試驗箱、恒溫恒濕試驗箱、低溫恒溫恒濕試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、、高低溫試驗箱、高低溫交變濕熱試驗箱、溫度沖擊試驗箱、快速溫度變化試驗箱、步入式環(huán)境試驗室、溫濕度試驗箱、小型環(huán)境試驗箱、臺式濕熱試驗箱、冷熱沖擊試驗箱、步入式高低溫交變濕熱試驗室、鹽霧試驗箱、標準高溫試驗箱、小型高溫試驗箱、真空高溫試驗箱、無塵高溫試驗箱、防爆型高溫試驗箱、超高溫試驗箱、厭氧型高溫試驗箱、熱老化高溫試驗箱、精密熱風循環(huán)烤箱、無氧化熱風循環(huán)烤箱、無塵熱風循環(huán)烤箱,高溫工業(yè)烤箱
          冷熱沖擊測試設備,電子電路板高低溫沖擊試驗儀器用來測試材料結(jié)構或復合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時間內(nèi)試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進的依據(jù)或參考。
          冷熱沖擊測試設備,電子電路板高低溫沖擊試驗儀器 產(chǎn)品信息

          冷熱沖擊測試設備,電子電路板高低溫沖擊試驗儀器

          宏展*之一冷熱沖擊測試設備儀器,電子電路板行業(yè)我們客戶繁多,也得到了客戶的認可,多次使用,介紹朋友購買,都是給我們前進的動力。

          *設備特點
          規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
          設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
          高強度、高可靠性的結(jié)構設計- 確保了設備的高可靠性;
          工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
          高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui小;
          表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
          高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
          多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
          大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
          環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求;

          *可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能

          *溫度控制
          可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制;
          全程數(shù)據(jù)記錄儀(可選功能)可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯;
          每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
          USB接口、以太網(wǎng)通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
          采用流行的制冷控制模式,可以0%~99%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
          制冷及電控關鍵配件均采用產(chǎn)品,使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證;


          冷熱沖擊測試設備,電子電路板高低溫沖擊試驗儀器

          Bellcore
          GR-1221-CORE

          +70

          ±2

          ----

           

          ≧10min
          ≦15min

          ----

          含駐留時間
          &轉(zhuǎn)換時間≦15min

          500 cycle
          OR
          1000cycle

           

           

           

          +80

          ±2

           

          JESD22
          A104-A

          +125

          +10

           

          -40

          +0

          ≦15min

           

          產(chǎn)品特點

          規(guī)范要求:

          a.采用鋁片驗證機臺負載能力(非塑料負載)
          b.傳感器放置測試區(qū)而非風道口符合實驗有效性
          a.進行兩箱沖擊時測試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
          b.可擴充待測品表面溫度控制駐留時間來縮短試驗時間
          c.可直接多項規(guī)范與試驗條件

          蓄熱式冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

          ---- 不符合此規(guī)格◎符合此規(guī)格★可配增加此功能※可配增加LN2功能

          試驗規(guī)范

          駐留溫度(℃)
          (exposure temp.)

          駐留溫度時間(Min)
          (exposure time)

          覆歸時間
          (recovery time)

          周期
          或次數(shù)

          試驗起
          始點

          備注

          適用機臺型號
          TS-(46/80/150/252/336)

          高溫

          室溫

          低溫

          高溫/低溫

          室溫

          S

          U

          L

          MIL-STD-883E
          (Method 010.7)

          +85

          +10

          ----

          -55

          0

          ≧10min
          ≦15min

          ----

          含駐留時間&
          轉(zhuǎn)換時間≦15min

          zui少
          10次

          低溫或
          高溫

          Temperature Cycling
          (轉(zhuǎn)換時間<1min)

          實驗過程若中斷
          超過總實驗之1/10
          次則實驗須重做

          ----

          0

          +125

          +15

          ----

          0

          -10

          +150

          +15

          ----

          0

          +150

          +15

          -65

          0

          .

          ----

          0

          -10

          MIL-STD-202F
          (Method 07G)

          +83

          +3

          -25

          +10

          -55

          0

          28g以下
          15~30 Min
          28~136g
          30Min
          136g~1.36Kg
          60Min
          1.36~13.6Kg
          120Min
          13.6~136Kg
          240Min

          Max.
          5 Min

          5 Min 以內(nèi)

          5 cycle
          25
          50
          100

          低溫

          Transfer time
          不超過5 min

          0

          -3

          +125

          +3

          -65

          0

          ----

          0

          -5

          -5

          +125

          +3

          -65

          0

          ----

          0

          -5

          JIS C 0025
          IEC 68-2-14
          GB 2423.22

          +70

          +85

          +100

          +125

          ±2

          ±2

          ±2

          ±2

          室溫

          -5

          -10

          -25

          -40

          -55

          -65

          ±3
          ±3
          ±3
          ±3
          ±3
          ±3

          3hr
          2hr
          1hr
          30min
          或無定義則
          以3hr定義

          手動轉(zhuǎn)
          移時間
          2~3Min

          為駐留時間
          之1/10

          5 cycle
          除非有
          其它規(guī)格

          低溫

          Auto
          Transfer time
          不超過30 sec
          小試件
          Transfer time
          不超過10 sec

           

           

           

           

          ----

          IPC 2.6.7

          +70

          ±2

          ----

          0

          +0

          15 Min

          ----

          2 Min 以內(nèi)

          100 cycle

          高溫
          (試驗結(jié)束
          點在高溫)

          Transfer time
          不超過2 min

          -0

          -5

          +85

          +5

          -40

          +0

          -0

          -5

          +105

          +5

          -55

          +0

          -0

          -5

          +105

          +5

          -65

          +0

          ----

          -0

          -5

          +105

          +5

           

           

          ----

          -0

          IPC 2.6.6

          +85

          +3

          -25

          +10

          -55

          +0

          30 Min

          10-15
          Min

           

          5 cycle

           

           

          -0

          -5

          +125

          +3

          -5

          -65

          +0

          ----

          -0

          -5

          *設備滿足以下標準
          GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
          GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
          GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
          GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
          GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
          GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
          GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
          GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

          保養(yǎng)說明:

          1.在實施保養(yǎng)中過程中,請務必將機器之總電源及漏電斷路器予以關閉

          2.請確實實施各機件的定期保養(yǎng),以維持機器正常運作。

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