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太陽(yáng)光譜反射計(jì) 型號(hào) SSR-ER

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公司名稱上海品魁機(jī)電科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地上海市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2022/4/26 10:37:44
訪問(wèn)次數(shù)217

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上海品魁機(jī)電科技有限公司致力于實(shí)驗(yàn)室設(shè)備的咨詢，銷售推廣，技術(shù)咨詢售后服務(wù)于一體的綜合供應(yīng)商，廣泛的采購(gòu)貿(mào)易網(wǎng)絡(luò)，以及良好的商業(yè)信譽(yù)，致力于*為國(guó)內(nèi)高校，科研院所及企業(yè)單位提供專業(yè)、優(yōu)質(zhì)、實(shí)用的實(shí)驗(yàn)室儀器及相關(guān)技術(shù)服務(wù)。

　　公司秉承誠(chéng)信、共贏的核心價(jià)值觀。為科研，生產(chǎn)用戶提供高品質(zhì)的設(shè)備，技術(shù)服務(wù)，不斷追求共同發(fā)展，向社會(huì)分享更多我們創(chuàng)造的價(jià)值。

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太陽(yáng)光譜反射計(jì)，型號(hào)SSR-ER版本6具有可選的太陽(yáng)測(cè)量光譜，與各種標(biāo)準(zhǔn)的和光束法向太陽(yáng)輻照度模型相匹配

太陽(yáng)光譜反射計(jì) 型號(hào) SSR-ER 產(chǎn)品信息

太陽(yáng)光譜反射計(jì)，型號(hào) SSR-ER 版本 6 具有可選的太陽(yáng)測(cè)量光譜，與各種標(biāo)準(zhǔn)的和光束法向太陽(yáng)輻照度模型相匹配。SSR 可對(duì)漫反射和鏡面反射材料進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量，甚至可以測(cè)量厚度達(dá) 0.25 英寸（6.4 毫米）的第二表面反射器。太陽(yáng)反射率或吸收率顯示為 0.001 單位，重復(fù)性為 0.003 單位。
主要特征

為了匹配各種太陽(yáng)輻照度反射值，在四個(gè)實(shí)際探測(cè)器中添加了兩個(gè)“虛擬”探測(cè)器。四個(gè)實(shí)際檢測(cè)器覆蓋了大致以 UV、藍(lán)色、紅色和 IR 為中心的寬波段。通過(guò)在較低的燈色溫下對(duì)紅色和紅外檢測(cè)器重新采樣來(lái)添加兩個(gè)虛擬檢測(cè)器。通過(guò)有效的六個(gè)探測(cè)器，可以很好地匹配各種太陽(yáng)輻照度。對(duì)于典型的和直接輻照度.
只需按一下鍵即可根據(jù)所提供的標(biāo)準(zhǔn)之一校準(zhǔn)和調(diào)整測(cè)量光譜。最多可以將五個(gè)附加標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)保存在內(nèi)存中，允許使用除提供的標(biāo)準(zhǔn)之外的工作標(biāo)準(zhǔn)。
可以從鍵盤啟動(dòng)凍結(jié)當(dāng)前讀數(shù)的“保持”功能。這對(duì)于需要手持測(cè)量頭的應(yīng)用非常有用。它還允許針對(duì)單次測(cè)量顯示不同太陽(yáng)輻照度匹配的反射率或吸收率。
固件支持多種操作模式，包括采樣和保持與連續(xù)采樣、將反射數(shù)據(jù)自動(dòng)或手動(dòng)發(fā)送到串行端口以及模擬第 5 版反射讀數(shù)。
除了隨儀器提供的三個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，還提供了四個(gè)額外的色塊標(biāo)準(zhǔn)來(lái)跟蹤儀器的色溫校準(zhǔn)。選擇這些瓦片以在一個(gè)或多個(gè)檢測(cè)器的波長(zhǎng)范圍內(nèi)具有單調(diào)增加或減少的反射率。

太陽(yáng)光譜反射計(jì)SSR-ER技術(shù)規(guī)格：

分辨率：4 個(gè)數(shù)字液晶顯示反射比、吸收比和透射比至0.001 個(gè)單位
重復(fù)性：±0.003 個(gè)單位
準(zhǔn)確度：使用校正板，對(duì)某典型的太陽(yáng)輻射，偏差±0.002，標(biāo)準(zhǔn)偏差0.005
漂移：預(yù)熱5 分鐘后，不超過(guò)（1%讀數(shù)值±0.003 個(gè)單位）/小時(shí)
操作溫度：電子組件≤60℃，探測(cè)頭和透射比附件≤50℃
操作和儲(chǔ)存濕度：≤80%
校正板：配有漫反射和鏡面反射標(biāo)準(zhǔn)板，它們是經(jīng)過(guò)NBS 校正的二標(biāo)準(zhǔn)板（編號(hào)2019 和2023），標(biāo)準(zhǔn)板的校正數(shù)據(jù)已經(jīng)程序化在電子組件中，有校正記錄可提供
測(cè)量孔：反射測(cè)試孔直徑是1 英寸（25.4mm）。樣品放置在圍繞測(cè)試口的氟隆墊圈上，墊圈的作用是防止樣品在檢測(cè)時(shí)遭受損壞，樣品的小尺寸是直徑1.1 英寸（28mm）；透射比測(cè)試孔的直徑是1.5 英寸（38mm）樣品放在支架盤上，樣品的小尺寸是1.65 英寸（42mm）
光源：可替換的鹵鎢燈反射測(cè)量：鹵鎢燈對(duì)樣品孔處的樣品提供漫照射，反射光能在與正常情況下成20°角被檢測(cè)器接收。通過(guò)相互作用，這個(gè)檢測(cè)結(jié)果等同于在同樣檢測(cè)條件下檢測(cè)得到的直射光能。
透射測(cè)量：待測(cè)樣品被漫照射，透射光能在與正常情況下成0～60°的固定角度被檢測(cè)器接收。通過(guò)相互作用，這個(gè)檢測(cè)結(jié)果等同于在個(gè)想要的角度檢測(cè)得到的樣品直透射光能。
檢測(cè)光譜：為了匹配不同的光譜范圍，6 個(gè)檢測(cè)器的加權(quán)結(jié)果通過(guò)套參考反射比瓷磚校正的光譜來(lái)實(shí)現(xiàn)。每臺(tái)儀器會(huì)生成組特定加權(quán)，這樣，太陽(yáng)光譜的匹配會(huì)達(dá)到優(yōu)化，從而大限度地減少不同儀器間的變化影響檢測(cè)結(jié)果。