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菲希爾測(cè)厚儀 產(chǎn)品描述
| 品牌 | 一六儀器 | 型號(hào) | STU-50B |
| 類別 | 下照式 | 儀器尺寸 | 550mm*480mm*470mm |
| 儀器重量 | 45KG | XY軸工作臺(tái)移動(dòng)范圍 | 50mm*50mm |
| XY軸工作臺(tái)承重 | 5KG | 測(cè)量元素范圍 | CI（17）-U（92） |
| 不同層相同元素檢查能力 | 標(biāo)配 | 涂鍍層分析范圍 | Li(3)-U(92) |
| 分析軟件 | 同時(shí)分析23個(gè)鍍層24種元素 | X射線裝置 | 微聚焦加強(qiáng)型射線管 |
| 準(zhǔn)直器 | φ0.5mm、φ0.2mm、φ0.1mm、φ0.05mm四準(zhǔn)直器任選一種 | 測(cè)量距離 | 具有距離補(bǔ)償功能，可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異行物品，變焦距離可達(dá)0-30mm |
| 對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭，手動(dòng)對(duì)焦 | 樣品臺(tái)移動(dòng) | 高精密XY手動(dòng)滑軌 |
| 其他附件 | 電腦一套，噴墨打印機(jī)，附件箱，12元素片，電鍍液測(cè)量杯（選配）標(biāo)準(zhǔn)片（選配） |
丞普諾儀器（蘇州）有限公司產(chǎn)品*可以與國(guó)外同類產(chǎn)品相媲美。本公司擁有行業(yè)的技術(shù)人才具有豐富的設(shè)計(jì)制造經(jīng)驗(yàn)。多年來(lái)與各大學(xué)、科研院所保持著緊密的合作關(guān)系。
測(cè)厚儀特點(diǎn)：
1、一次可同時(shí)分析24個(gè)元素。
2、任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
3、相互立的基體效應(yīng)校正模型。
4、多變量非線性回收程序。
5、貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
6、針對(duì)不同樣品可自動(dòng)切換準(zhǔn)直器。
7、智能貴金屬檢測(cè)軟件，與儀器硬件相得益彰。
8、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍以上。
鍍層測(cè)厚儀檢測(cè)的方法
無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng)，滄州歐譜又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。
鍍層測(cè)厚儀測(cè)量方法：
鍍層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。
丞普諾儀器（蘇州）有限公司以誠(chéng)信、實(shí)力和質(zhì)量獲得業(yè)界的高度認(rèn)可，堅(jiān)持以客戶為核心，“質(zhì)量到位、服務(wù)”的經(jīng)營(yíng)理念為廣大客戶提供的服務(wù)。
