智能制造網(wǎng)>產(chǎn)品庫(kù)>儀器儀表>儀表>其它儀表及相關(guān)>>深圳鍍層分析鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試

深圳鍍層分析鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試

參考價(jià)	面議

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱(chēng)深圳市安普檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司東莞分公司
品牌
型號(hào)
所在地東莞市
廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間2020/11/14 14:39:55
訪問(wèn)次數(shù)397

產(chǎn)品標(biāo)簽:

鍍層分析鍍層厚度檢測(cè)電鍍膜厚測(cè)試

在線詢(xún)價(jià)收藏產(chǎn)品點(diǎn)擊查看電話

聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是智能制造網(wǎng) 上看到的信息，謝謝!

索取相關(guān)資料

公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

深圳市安普檢測(cè)技術(shù)服務(wù)有限公司是一家擁有國(guó)家CNAS、CMA資質(zhì)的檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，專(zhuān)注于為客戶(hù)提供檢測(cè)、分析與技術(shù)咨詢(xún)等服務(wù)，服務(wù)對(duì)象涉及金屬材料、汽車(chē)、塑料橡膠、貨架、軌道交通等行業(yè)。
安普檢測(cè)成立于2013年，總部在深圳，另分別在東莞、廣州、湖南長(zhǎng)沙等地區(qū)設(shè)立了辦事處，借助科學(xué)的檢測(cè)分析標(biāo)準(zhǔn)或方法、專(zhuān)業(yè)的工程技術(shù)人員和精密的儀器設(shè)備，幫助客戶(hù)解決在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、貿(mào)易等環(huán)節(jié)遇到的各種工程、科學(xué)和技術(shù)問(wèn)題。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

無(wú)損檢測(cè)，焊接工藝評(píng)定，鍍層厚度，鹽霧測(cè)試，鍛造件檢測(cè)，軌道交通，現(xiàn)場(chǎng)成分分析

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢(xún)價(jià)

深圳鍍層分析鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試
鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有 1. 金相法 2. 庫(kù)侖法 3. X-ray 方法。

深圳鍍層分析鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試產(chǎn)品信息

深圳鍍層分析鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試

安普檢測(cè)的服務(wù)優(yōu)勢(shì)在于以更短的檢測(cè)周期和更低的服務(wù)價(jià)格，為客戶(hù)節(jié)約成本和周期，幫助客戶(hù)快速獲取準(zhǔn)確有效數(shù)據(jù)，并為客戶(hù)提供后期技術(shù)服務(wù)支持。安普檢測(cè)作為平臺(tái)化運(yùn)營(yíng)品牌，與國(guó)內(nèi)外多家實(shí)驗(yàn)室建立了良好的合作關(guān)系，旨在為客戶(hù)、行業(yè)提供更優(yōu)質(zhì)的檢測(cè)咨詢(xún)服務(wù)

鍍層厚度測(cè)試檢測(cè)材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測(cè)試。檢測(cè)方法有 1. 金相法 2. 庫(kù)侖法 3. X-ray 方法。

深圳鍍層分析鍍層厚度檢測(cè) 電鍍膜厚測(cè)試

金相法：

采用金相顯微鏡檢測(cè)橫斷面，以測(cè)量金屬覆蓋層、氧化膜層的局部厚度的方法。一般厚度檢測(cè)需要大于1um，才能保證測(cè)量結(jié)果在誤差范圍之內(nèi)；厚度越大，誤差越小。

庫(kù)侖法：

適合測(cè)量單層和多層金屬覆蓋層厚度陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法，包括測(cè)量多層體系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆蓋層和合金化擴(kuò)散層的厚度。不僅可以測(cè)量平面試樣的覆蓋層厚度，還可以測(cè)量圓柱形和線材的覆蓋層厚度，尤其適合測(cè)量多層鎳鍍層的金屬及其電位差。測(cè)量鍍層的種類(lèi)為Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。

X-ray 方法：

適用于測(cè)定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。

本測(cè)量方法可同時(shí)測(cè)量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測(cè)量三層組分的厚度和成分。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：1. GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法

2. ASTM B487-85(2007) Standard Test Method for Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopical Examination of a Cross Section

3. ASTM B764-04 Standard Test Method for Simultaneous Thickness and Electrode Potential

Determination of Individual Layers in Multilayer Nickel Deposit (STEP Test)

4. GB/T4955-1997金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量

5. GB/T16921-2005 金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法

6. ASTM B568-98(2004) Standard Test Method for Measurement of Coating Thickness by X-Ray Spectrometry

關(guān)鍵詞：金相顯微鏡顯微鏡