技術(shù)指導(dǎo)：

氧化鋯分析儀探頭老化的原因：

通常我們所指的探頭老化是指氧化鋯檢測(cè)器的老化，主要表現(xiàn)在內(nèi)阻升高和本底電勢(shì)增大這兩項(xiàng)上：（1）內(nèi)阻升高
實(shí)際運(yùn)用中，探頭老化引起的內(nèi)阻增大較多。內(nèi)阻是指信號(hào)線兩端間的輸入電阻，它是引線電阻、電極與氧化鋯間界面電阻及氧化鋯體積電阻三部分之和，因此，電極揮發(fā)、電極脫落和氧化鋯電解質(zhì)的反穩(wěn)（由穩(wěn)定氧化鋯變?yōu)椴环€(wěn)定氧化鋯），都將引起內(nèi)阻升高。測(cè)量檢測(cè)器內(nèi)阻，可以判斷其老化情況。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)，當(dāng)內(nèi)阻增大到接近其使用極*，將出現(xiàn)信號(hào)大跳動(dòng)現(xiàn)象，有些反應(yīng)為響應(yīng)遲緩的現(xiàn)象。對(duì)于這些檢測(cè)器，其本底電勢(shì)不一定很大。
（2）本底電勢(shì)增大
本底電勢(shì)是電池附加電勢(shì)。引起本底電勢(shì)增大的因素有兩種：一種屬于永存因素，它寄生的電池上，如SO2和SO3的腐蝕作用、電池不對(duì)稱因素；另一種屬于暫存因素，如電極各灰、空氣對(duì)流差等因素，一旦條件改善，本底電勢(shì)便可降低。
本底電勢(shì)的變大，往往反映檢測(cè)器的老化程度，當(dāng)E0值超過(guò)分析儀的zui大調(diào)節(jié)量時(shí)，就說(shuō)明檢測(cè)器已經(jīng)損壞。
舉個(gè)例子：
一個(gè)氧化鋯，出廠時(shí)的E0為-5mV,其允許變化范圍為0—-30mV，使用半年后，變?yōu)?13mV；使用18個(gè)月后變?yōu)椋?29mV；這種情況就表明，此檢測(cè)器已經(jīng)老化，需要更換。
需要注意的是，有些檢測(cè)器的老化表現(xiàn)在本底電勢(shì)變大上，而有些檢測(cè)器雖然老化，但卻沒(méi)有這種現(xiàn)象，所以我們需要認(rèn)真分析對(duì)待。當(dāng)本底電勢(shì)變大的原因是由暫存因素引起時(shí)，隨著使用時(shí)間的推移，則有可能出現(xiàn)本底電勢(shì)先變大，再變小的現(xiàn)象。
由于本底電勢(shì)增大而導(dǎo)致探頭老化的數(shù)量比內(nèi)阻增大數(shù)量要少，單純本底增大，一般不會(huì)出現(xiàn)信號(hào)跳動(dòng)大的現(xiàn)象。