X-4A列顯微熔點(diǎn)儀 顯微熔點(diǎn)測定儀測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定，顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定，又可用載玻片-蓋玻片法（熱臺法）測定。

性能指標(biāo)

熔點(diǎn)測量范圍：室溫至320℃

測量重復(fù)性：±1℃（在<200℃時(shí)）
            ±2℃（在200～300℃時(shí)）

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產(chǎn)品保證：上海慶拓儀器設(shè)備有限公司是一家依法成立的專業(yè)研發(fā)，生產(chǎn)及供應(yīng)的*，本公司所出售的產(chǎn)品按公司規(guī)定基于‘‘三包’’服務(wù)（因用戶使用、保管不當(dāng)，而并非產(chǎn)品質(zhì)量問題而發(fā)生的故障不予提供該項(xiàng)服務(wù)），超出保修服務(wù)期的產(chǎn)品本公司提供維修及零配件的供應(yīng)，并收取zui低配件費(fèi)用和人工服務(wù)費(fèi)。

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