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如何用2.5次元影像測(cè)量?jī)x如何測(cè)量高度
影像測(cè)量?jī)x每家的配置的軟硬件都不一樣,您要根據(jù)廠(chǎng)家的配置來(lái)看。影像測(cè)量?jī)x測(cè)高,在不破壞零件的情況下有2種方法。前提是:影像測(cè)量?jī)x必須在Z軸上安裝光柵尺。 *種方法,影像測(cè)高法; 在軟件上增加測(cè)高模塊,運(yùn)用焦距調(diào)節(jié)清楚一個(gè)平面;然后再找另一個(gè)平面;2個(gè)平面的差值就是要檢測(cè)的高度。系統(tǒng)誤差能控制到5個(gè)微米以?xún)?nèi)。 第二種方法,接觸法測(cè)高; 在Z軸上安裝英國(guó)雷尼紹的探針;用接觸法直接測(cè)量結(jié)果,這個(gè)方法也得在軟件上增加模塊。 如果是單純測(cè)量相對(duì)高度,可以建議考慮在影像測(cè)量?jī)x上增加以上2種方法中的任意一種;如果是需要檢測(cè)空間尺寸和復(fù)合尺寸,建議考慮三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x。
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