實驗內容  
調整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會分波面的干涉原理和干涉理論。  
測量干涉條紋的間隔，推算激光波長。  
雙棱鏡干涉實驗儀 北京技術參數  
光學實驗導軌：1200mm。  
半導體激光器：650nm,4mW。  
透鏡（帶框）：f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。  
激光功率指示計：三位半數字表頭，量程：200μW,2mW,20mW,200mW，可調檔。zui小分辨率0.1uW。 大一維位移架+12檔光探頭：位移范圍100mm，精度0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。  
一維可調導軌滑塊：調整范圍：10mm。  
雙棱鏡干涉實驗儀 北京儀器特點  
采用高穩(wěn)定度和長相干性的半導體激光器作為光源，以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器，與傳統(tǒng)的讀數顯微鏡方案相比，本實驗采用的方案更加客觀準確。

  
實驗內容  
調整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會分波面的干涉原理和干涉理論。  
測量干涉條紋的間隔，推算激光波長。  
技術參數  
光學實驗導軌：1200mm。  
半導體激光器：650nm,4mW。  
透鏡（帶框）：f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。  
激光功率指示計：三位半數字表頭，量程：200μW,2mW,20mW,200mW，可調檔。zui小分辨率0.1uW。 大一維位移架+12檔光探頭：位移范圍100mm，精度0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。  
一維可調導軌滑塊：調整范圍：10mm。  
儀器特點  
采用高穩(wěn)定度和長相干性的半導體激光器作為光源，以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器，與傳統(tǒng)的讀數顯微鏡方案相比，本實驗采用的方案更加客觀準確。