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廈門森倍科技有限公司
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所 在 地廈門市
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更新時間:2024-03-13 17:44:25瀏覽次數(shù):312次
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一、產(chǎn)品介紹:基于瞬態(tài)平面熱源法技術(TPS)的導熱系數(shù)測試儀。該產(chǎn)品由大展機電技術研究所自主研發(fā),測試性能穩(wěn)定,數(shù)據(jù)處理分析能力強,可用于各種不同類型材料的熱傳導性能的測量。二、測量對象:材料類型:金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復合材料、紙、織物、泡沫塑料(表面平整的隔熱材料、板材
一、產(chǎn)品介紹: 基于瞬態(tài)平面熱源法技術(TPS)的導熱系數(shù)測試儀。該產(chǎn)品由大展機電技術研究所自主研發(fā),測試性能穩(wěn)定,數(shù)據(jù)處理分析能力強,可用于各種不同類型材料的熱傳導性能的測量。
二、測量對象: 材料類型:金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復合材料、紙、織物、泡沫塑料(表面平整的隔熱材料、板材),聚氨酯、酚醛、尿醛、礦物棉(玻璃棉、巖棉、礦棉)、水泥墻體、玻璃增強復合板CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼面板復合板材、紙蜂窩板等。
三、技術參數(shù):
1、測試范圍: 0.001—300W/(m*K)
2、測量溫度范圍: -20℃—130℃
3、探頭直徑: 一號探頭7.5mm;二號探頭15mm
4、精度: ±3%
5、重復性誤差: ≤3%
6、測量時間: 5~160秒
7、電源: AC 220V
8、整機功率: ﹤500w
9、樣品溫升:﹤15℃
10、測試樣品功率P: 一號探頭功率0 11、樣品規(guī)格:一號探頭樣品(7.5*7.5*3.75mm)二號探頭樣品 (15*15*7.5mm) 注:1號探頭所測的是厚度較薄的低導材料。如所測樣品表面光滑平整且具有粘性可將樣品進行疊加 四、儀器特點: 1.測試范圍廣泛,測試性能穩(wěn)定,在國內(nèi)同類儀器中,處于**水平; 2.直接測量,測試時間5-160s左右可設置,能快速準確的測出導熱系數(shù),節(jié)約了大量的時間; 3.不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響; 4.無須特別的樣品制備,對樣品形狀并無特殊要求,塊狀固體只需相對平滑的樣品表面并且滿足長寬至少為探頭直徑的兩倍即可; 5.對樣品實行無損檢測,意味著樣品可以重復使用; 6.探頭采用雙螺旋線的結構進行設計,結合專屬數(shù)學模型,利用核心算法對探頭上采集的數(shù)據(jù)進行分析計算; 7.樣品臺的結構設計巧妙,操作方便,適合放置不同厚度的樣品,同時簡潔美觀; 8.探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進口的數(shù)據(jù)采集芯片,該芯片的高分辨率,能使測試結果更加準確可靠; 9.主機的控制系統(tǒng)使用了ARM微處理器,運算速度比傳統(tǒng)的微處理器快,提高了系統(tǒng)的分析處理能力,計算結果更加精確; 10.儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測定; 11.智能化的人機界面,彩色液晶屏顯示,觸摸屏控制,操作方便簡潔; 12.強大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動化的計算機數(shù)據(jù)通訊和報告處理系統(tǒng) 與其他方法相比,HNB-DRS2的優(yōu)勢: 儀器 瞬態(tài)平面熱源法 激光法 熱線法 保護平板法 測量方法 非穩(wěn)態(tài)法 非穩(wěn)態(tài)法 非穩(wěn)態(tài)法 穩(wěn)態(tài)法 測量物性 直接獲得導熱系數(shù)和熱擴散率 直接獲得熱擴散率和比熱,通過輸入的樣品密度值計算得到導熱系數(shù) 直接獲得導熱系數(shù) 直接獲得導熱系數(shù) 適用范圍 固體、液體、粉末、膏體、膠體、顆粒 固體 固體、液體 固體 樣品制備 無特殊要求,制樣簡單 制樣繁雜 制樣簡單,有特定要求 樣品尺寸較大 測量準確度 ±3%,*好可達到±0.5% *好可達到±10% *好可達到±5% *好可達到±3% 物理模型 平面熱源接觸式測量,只要有限面接觸良好 熱源非接觸式 線熱源,必須線模型接觸良好 熱源接觸式,需面接觸良好 熱導范圍[w/(m*k)] 0.005-300 10-500 0.005-10 0.005-5 測量時間 5-160S 幾分鐘 幾十分鐘 數(shù)小時
1、測試范圍: 0.001—300W/(m*K)
2、測量溫度范圍: -20℃—130℃
3、探頭直徑: 一號探頭7.5mm;二號探頭15mm
4、精度: ±3%
5、重復性誤差: ≤3%
6、測量時間: 5~160秒
7、電源: AC 220V
8、整機功率: ﹤500w
9、樣品溫升:﹤15℃
10、測試樣品功率P: 一號探頭功率0 11、樣品規(guī)格:一號探頭樣品(7.5*7.5*3.75mm)二號探頭樣品 (15*15*7.5mm) 注:1號探頭所測的是厚度較薄的低導材料。如所測樣品表面光滑平整且具有粘性可將樣品進行疊加
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