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蔡司三維X射線顯微鏡Xradia 510 Versa

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更新時(shí)間：2024-06-14 11:24:15瀏覽次數(shù)：147次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

蔡司三維X射線顯微鏡Xradia510Versa，憑借其突破性技術(shù)和高分辨率探測(cè)器,將3DX射線顯微鏡的性能提升至新的高度，為各種尺寸的樣品提供亞微米級(jí)成像解決方案

詳細(xì)介紹

蔡司三維X射線顯微鏡Xradia 510 Versa，憑借其突破性技術(shù)和高分辨率探測(cè)器,將3DX射線顯微鏡的性能提升至新的高度，為各種尺寸的樣品提供亞微米級(jí)成像解決方案。通過其優(yōu)異的分辨率、襯度和靈活的工作距離以及原位/4D解決方案的強(qiáng)大組合，有力拓展了非破壞性的實(shí)驗(yàn)室成像能力。創(chuàng)新的成像成都和圖像采集技術(shù)讓您能夠自由地定位于發(fā)現(xiàn)更多信息，進(jìn)行深度探索，從而獲取新的發(fā)現(xiàn)。

產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 三維無損成像
2. 700 nm真實(shí)空間分辨率
3. 的大工作距離下高分辨率，可實(shí)現(xiàn)不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像
4. 吸收、相位襯度成像模式
5. 4D 原位成像能力
6. 可升級(jí)、拓展和可靠性

應(yīng)用領(lǐng)域:
1. 材料科學(xué)，如三維無損分析
2. 生命科學(xué)，如微觀結(jié)構(gòu)成像
3. 地球科學(xué)，如地質(zhì)、油氣、礦產(chǎn)、古生物等三維成像
4. 電子和半導(dǎo)體行業(yè)，如形貌測(cè)量及失效分析
5. 原位力學(xué)、變溫試驗(yàn)