一、概述
PSJSC智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗(tgδ)和電容容量(Cx)的儀器,用于工頻高壓下,測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗,(tgδ)和電容容量(Cx)它淘汰了 QS 高壓電橋,具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓、抗*力強(qiáng)、測(cè)試時(shí)間(在國(guó)內(nèi)同類(lèi)產(chǎn)品中速度zui快)等特點(diǎn)。體積小、重量輕是第二代抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
二、技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境溫度:0 ~40℃(液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照)
2、相對(duì)濕度:30%~70%
3、供電電源:電壓:220V±10%、頻率:50±1Hz
4、外形尺寸:長(zhǎng)×寬×高 500mm×300mm×400mm
5、重量:約18Kg
6、輸出功率:0.6KVA
7、顯示分辯率:3位、4位(內(nèi)部全是6位)
8、測(cè)量范圍及輸出電壓選擇:
介質(zhì)損耗(tgδ):±0.00~±999%
試品電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤300nF(300000pF) 3KV檔:≤200nF(200000pF)
5KV檔:≤76nF(76000pF) 7.5KV檔:≤34nF(34000pF)
10KV檔:≤20nF(20000pF)
9、基本測(cè)量誤差:
介質(zhì)損耗(tgδ):1%±7個(gè)字(加載電流20uA~500mA)
介質(zhì)損耗(tgδ):2%±9個(gè)字(加載電流5uA~20uA)
電容容量(Cx):1.5%±1.5pF
三、結(jié)構(gòu)
PSJSC智能介質(zhì)損耗測(cè)試儀為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu),輸出電壓2.5KV—10KV五檔可調(diào),以適應(yīng)各種需要,在測(cè)量時(shí)無(wú)需任何外部設(shè)備,接線與QS 電橋相似,但比其方便。

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