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          行業(yè)產(chǎn)品

          • 行業(yè)產(chǎn)品

          北京費恩科技有限公司


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          μPhase®高精度干涉儀

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          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

          產(chǎn)品型號

          品       牌

          廠商性質(zhì)其他

          所  在  地北京市

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          更新時間:2024-04-16 13:54:44瀏覽次數(shù):64次

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            暫無信息

          經(jīng)營模式:其他

          商鋪產(chǎn)品:156條

          所在地區(qū):

          產(chǎn)品簡介

          μPhase®系列干涉儀用于測量高精度要求的光學(xué)零件,材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等,非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進行較精確的評價

          詳細介紹

          μPhase®系列干涉儀用于測量高精度要求的光學(xué)零件,材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等,非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進行較精確的評價。μPhase®系列干涉儀得益于該設(shè)備緊湊與模塊化的設(shè)計理念,使它們得到靈活、高效的使用。μPhase®系列干涉儀的各個組成部件相對獨立,相互兼容,可靈活組合成有針對性應(yīng)用的強大干涉計量系統(tǒng)。


           μPhase®干涉儀主機

          μPhase® Vertical

          μPhase

          測量各種零件
          產(chǎn)品特點:
          • 模塊化設(shè)計,結(jié)構(gòu)緊湊;

          • 測量適用性強,保證可以在各種工作與生產(chǎn)環(huán)境中進行檢測;

          • 可測量反射率0.3%-99%的光學(xué)表面,覆蓋范圍廣;

          • 數(shù)字化測量,避免人為損壞;

          • 的結(jié)構(gòu),全面的軟件,為生產(chǎn)及實驗室提供支持;

          • 無二的的產(chǎn)品特點:泰曼格林型/菲索型組合或用于校準(zhǔn)樣品的第二個相機,為μPhase®系列干涉儀的使用提供了便利。

           

          μPhase® Vertical
          • 適用于廠房、車間、實驗室的標(biāo)準(zhǔn)干涉儀檢測系統(tǒng)

          • 立式檢測,結(jié)構(gòu)緊湊,占地面積小

          • 標(biāo)配一個沿Z軸方向電動平移的平臺,可選配第二個平臺

          • 傾斜及X/Y平移精調(diào)

          • 可完成各種類型的反射與透射檢測

          • 可采用透射法檢測雙膠合透鏡

          • 凹面與凸面球面鏡的檢測范圍:標(biāo)準(zhǔn)曲率半徑范圍:1mm-225mm,

          直徑55mm(采用50mm物鏡μLens PLANO 50)
          • 集成半徑測量單元

          • 可選CGH,用于測量非球面、柱面、輪胎面等

          • Z軸方向設(shè)置導(dǎo)軌電機,電動升降

          • 曲率半徑實現(xiàn)一鍵式自動測量

           

          μPhase® SPHERO UP, μPhase® PLANO UP,μPhase® Plano Down
          • 用于測量不同的平面和球面光學(xué)零件

          • 操作直觀而簡單,適合非專業(yè)人士操作

          • 測量范圍:

          μPhase® Plano Down:平面φ≤2 mm 至 150 mm;
          μPhase® PLANO UP:平面φ≤2 mm 至 100 mm ;
          μPhase® SPHERO UP:球面,曲率半徑(凸面)2mm—  225mm,直徑 55mm ;
          球面,曲率半徑(凹面)-3mm—-570mm
          • 結(jié)構(gòu)緊湊,占用空間下,可靈活的與產(chǎn)線結(jié)合   

           

          μPhase® UNIVERSAL 100μPhase® Plano 300
          • 用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統(tǒng)

          • 理想的大型平面的檢測系統(tǒng),光學(xué)材料的均勻性檢測系統(tǒng)

          • 球面測量范圍:凹面曲率半徑-3000mm(提供相應(yīng)導(dǎo)軌)

          • 理想的成盤拋光分塊鏡面形檢測系統(tǒng)

          • 平面測量范圍:98mm

          • 測量范圍60-300mm

          • 半徑測量系統(tǒng)集成導(dǎo)軌和光柵尺

          • 立式檢測系統(tǒng),其它檢測方式根據(jù)要求可訂制

          • 適合長焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測

          • 具有重型光學(xué)元件的支承、調(diào)整等操作功能。

          • 與市場上通用的4英寸標(biāo)準(zhǔn)球面物鏡相兼容


          • 可選旋轉(zhuǎn)對稱非球面的檢測配件,檢測范圍10mm-80mm,CGH檢測輪胎面、柱面等



          關(guān)鍵詞:光柵尺

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