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蘇州市宇宏光電儀器有限公司
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更新時(shí)間：2023-01-27 18:27:11瀏覽次數(shù)：276次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 智能制造網(wǎng)可同時(shí)測(cè)量SCI和SCE通過特殊的數(shù)字化光澤控制方式同時(shí)測(cè)量SCI和SCE，僅需4秒即可連續(xù)測(cè)量
可同時(shí)測(cè)量SCI和SCE
通過特殊的數(shù)字化光澤控制方式同時(shí)測(cè)量SCI和SCE，僅需4秒即可連續(xù)測(cè)量。與傳統(tǒng)機(jī)型不同的是，無需在SCI和SCE模式之間進(jìn)行頻繁的機(jī)械切換，這樣就提高了工作效率。由于在切換模式時(shí)測(cè)量區(qū)域不會(huì)變化，因此可提供穩(wěn)定的測(cè)量數(shù)據(jù)。
也可輕松獲取任意光源下的數(shù)據(jù)（UV調(diào)整）。任意光源下僅需測(cè)量已知分光反射率數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)熒光樣本，即可完成UV校正。UV校正后可獲取相應(yīng)光源下的樣本數(shù)據(jù)。由于無需對(duì)UV截止濾光片移動(dòng)引起的嘗試錯(cuò)誤進(jìn)行UV調(diào)整，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。
符合JIS、ISO、DIN、CIE、ASTM的di:8°、de:8°（漫射照明、8° 接收）方式
符合ISO、DIN、CIE、ASTM的di:0°、de:0°（漫射照明、0° 接收）方式
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