高低溫快速循環(huán)試驗箱用途介紹
東莞市華臺測試儀器有限公司生產的高低溫快速循環(huán)試驗箱主要用于考察各種工業(yè)制品、電子零件、汽車零件部件、筆記本電腦、光電器件、互連電路、組件單元、電子設備、動力電池、新能源汽車、芯片、電路板在氣候環(huán)境高溫、低溫、濕度組合條件下，模擬高低溫操作、高低溫貯存、高低溫溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結露等實驗篩選測試。高低溫快速循環(huán)試驗箱檢測產品自身的環(huán)境適應能力與特性在熱機械性能引起的失效篩選試驗和失效模式評估。溫度變化速率5℃～25℃/min線性與非線性溫變。
高低溫快速循環(huán)試驗箱詳細技術參數
1.工作室尺寸：225L、408L、800L、1000L、1500L、2000L。
2.承載重量：20～100（kg）。
3.溫度范圍：-70℃～+180℃；-60℃～+150℃；-40℃～+150℃；-20℃～+150℃。
4.溫變速率：3℃/min；5℃/min；8℃/min；10℃/min；15℃/min；20℃/min。（選購：線性或非線性）
5.溫變范圍：-40℃～+85℃或-55℃～+125℃。 （可按需求定制）
6.濕度范圍: 20%～98%。
7.溫度波動度：±0.5℃。
8.溫度均勻度：±2.0℃。
9.濕度穩(wěn)定度：±1.0%R.H。
10.濕度均勻度：≤5.0%R.H。
11.溫/濕度偏差：≤±2.0℃/3.0%R.H。
12.制冷劑：R-404A/R-23。
13.制冷系統(tǒng)：壓縮機低噪音二元復疊模塊化熱交換式設計制冷機組。
14.加熱系統(tǒng)：進口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒空氣式加熱控溫。
15.加濕系統(tǒng)：鈦合金護套式電加熱加濕器，均勻濕氣發(fā)生裝置。
16.節(jié)能方式：冷端PID調節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱），比平衡調溫方式節(jié)能30%。
17.保護裝置：壓縮機過載、過流、超壓保護；漏電保護；內箱超溫保護；加熱管空焚保護。
18.標準配置：觀測窗一個；LED視窗燈一支；保險管2支；物料架2套。
19.電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。
20.功率：5.0KW～35.0KW。
高低溫快速循環(huán)試驗箱測試標準程序
1.MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產品應力篩選：
高溫：150℃ 低溫：-60℃ 溫變率：5℃/min 循環(huán)數：10～12次 循環(huán)時間：3h20min。
2.MIL-344A-4-16電子設備環(huán)境應力篩選：
高溫：71℃ 低溫：-54℃ 溫變率：5℃/min 循環(huán)數：10次 循環(huán)時間：3h20min。
3.MIL-2164A-19電子設備環(huán)境應力篩選：
高溫：150℃ 低溫：-60℃ 溫變率：10℃/min 循環(huán)數：10次 循環(huán)時間：工作室達到溫度10℃時。
4.NABMAT-9492美軍*制造篩選：
高溫：55℃ 低溫：-53℃ 溫變率：15℃/min 循環(huán)數：10次 循環(huán)時間：工作室達到溫度15℃時。
5.GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環(huán)境應力篩選:
高溫：85℃ 低溫：-55℃ 溫變率：15℃/min 循環(huán)數：≧25次 循環(huán)時間：工作室達到溫度穩(wěn)定的時間。
6.GJB/Z34-5.1.6電子產品定量環(huán)境應力篩選：
高溫：70℃ 低溫：-55℃ 溫變率：5℃/min 循環(huán)數：≧10次 循環(huán)時間：工作室達到溫度穩(wěn)定的時間。
7.筆記型計算機：
高溫：85℃ 低溫：-40℃ 溫變率：15℃/min 循環(huán)數：≧10次 循環(huán)時間：3h20min 。
高低溫快速循環(huán)試驗箱溫度控制系統(tǒng)
1.可實現溫度定值控制和程序控制。
2.全程數據記錄儀（可選功能）可以實現試驗過程的全程記錄和追溯。
3.每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性。
4.USB接口、以太網通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要。
5.采用國際流行的制冷控制模式，可以0%～100 %自動調節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。
6.制冷及電控關鍵配件均采用國際品牌產品，使設備的整體質量得到了提升和保證。
高低溫快速循環(huán)試驗箱測試執(zhí)行標準
1.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件。
2.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術條件。
3.GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫。
4.GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫。
5.GB/T 2423.3-2006 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗。
6.GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）。
7.GB/T 2423.22-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化。
8.GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。
9.GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗。
10.GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗。
11.GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第9部分：濕熱試驗。
