BeamAnalyzer刀口式光束質(zhì)量分析儀

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更新時(shí)間：2023-11-30 17:05:49瀏覽次數(shù)：227次

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上海屹持光電技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Duma BeamAnalyzer刀口式光束質(zhì)量分析儀，采用刀口式分析原理，可以對(duì)連續(xù)激光的實(shí)時(shí)監(jiān)控，可以精準(zhǔn)測(cè)量光束強(qiáng)度分布，寬度，位置，功率，基本光束形狀以及光束質(zhì)心和橢圓率的檢測(cè)。探測(cè)器頭由多個(gè)刀刃組成，以掃描光束并捕獲激光的強(qiáng)度分布?？蓹z測(cè)190nm到2700nm的光譜范圍，有效探測(cè)面積為3mm至10mm，可檢測(cè)光束尺寸最小為3μm，具備高達(dá)0.1μm分辨率。

詳細(xì)介紹

以色列Duma公司BeamAnalyzer刀口式光束質(zhì)量分析儀

Duma Optronics 公司于1989年成立于以色列，是一家專業(yè)從事激光光束自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司，其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類型豐富，功能全面。

Duma BeamAnalyzer刀口式光束質(zhì)量分析儀，采用刀口式分析原理，可以對(duì)連續(xù)激光的實(shí)時(shí)監(jiān)控，可以精準(zhǔn)測(cè)量光束強(qiáng)度分布，寬度，位置，功率，基本光束形狀以及光束質(zhì)心和橢圓率的檢測(cè)。探測(cè)器頭由多個(gè)刀刃組成，以掃描光束并捕獲激光的強(qiáng)度分布?？蓹z測(cè)190nm到2700nm的光譜范圍，有效探測(cè)面積為3mm至10mm，可檢測(cè)光束尺寸最小為3μm，具備高達(dá)0.1μm分辨率。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

·業(yè)界成熟的刀口系統(tǒng)

·層析成像重建算法

·光束測(cè)量范圍3微米至9毫米

·準(zhǔn)確測(cè)量輪廓，位置和功率

·多種探測(cè)器類型，波長(zhǎng)覆蓋從深紫外到近紅外

產(chǎn)品應(yīng)用：

·實(shí)時(shí)測(cè)量光束尺寸和高斯擬合(或平頂光束)

·實(shí)時(shí)繪制光束的二維/三維視圖

·激光器的光束質(zhì)量分析

·激光束分析:輪廓、光束尺寸、位置、功率

產(chǎn)品參數(shù)：

傳感器類型		Si/UV-Si/IR/IRE
光譜范圍	Si UV-Si IR IRE	350-1100nm 190-1100nm 800-1800nm 1200-2700nm
刀片數(shù)		3（BA3頭） 7（BA7頭）
光束尺寸范圍	BA3-Si和BA3-UV BA7-Si和BA7-UV(橢圓形) BA7-Si和BA7-UV（圓形） BA3-IR3和BA3-IR3-E BA7-IR3和BA7-IR3-E BA3-IR5 BA7-IR5	3μm-5mm 15μm-10mm 15μm-9mm 3μm-3mm 15μm-3mm 3μm-5mm 15μm-5mm
光束寬度分辨率	>100μm <100μm	1μm 0.1μm
光束寬度精確度		±2%
功率范圍	Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭	10μW-1W(有衰減片) 10μW-5mW(無(wú)衰減片)
功率精確度	Si和UV-Si探頭 InGaAs探頭	±5% ±10%
功率分辨率		0.1μW
位置精確度		±15μm
位置分辨率		1μm
飽和度	Si和UV-Si探頭	0.1W/cm2(無(wú)衰減片)，20W/cm2(NG9)
測(cè)量速率		5Hz
溫度		0℃-35℃

關(guān)鍵詞：探測(cè)器分析儀

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