半導體芯片測試線性5℃/min快速溫變試驗箱

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產品型號QZ-LK-80TK/G

品牌

廠商性質生產商

所在地東莞市

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更新時間：2022-10-28 16:22:24瀏覽次數(shù)：212次

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東莞市勤卓環(huán)境測試設備有限公司

經營模式：生產廠家

商鋪產品：80條

所在地區(qū)：廣東東莞市

聯(lián)系人：余櫻（銷售經理）

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產品簡介

半導體芯片測試線性5℃/min快速溫變試驗箱是產品在設計強度極限下，運用溫度加速技巧（在上、下限極值溫度內進行循環(huán)時，產品產生交替膨脹和收縮）改變外在環(huán)境應力，使產品中產生熱應力和應變，透過加速應力來使?jié)摯嬗诋a品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產品于使用過程中，受到環(huán)境應力的考驗時而導致失效，造成不必要的損失，

詳細介紹

半導體芯片測試線性5℃/min快速溫變試驗箱

一、快速溫變濕熱試驗箱 - 產品用途

快速溫變濕熱試驗箱（又名快速溫變試驗箱）是產品在設計強度極限下，運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內進行循環(huán)時，產品產生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應力，使產品中產生熱應力和應變，透過加速應力來使?jié)摯嬗诋a品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產品于使用過程中，受到環(huán)境應力的考驗時而導致失效，造成不必要的損失，對于提高產品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應力篩本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗，所以應力篩選是對產品進行的程序.

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二、快速溫變濕熱試驗箱 - 滿足標準

GB/T2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法； GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.3-2006 試驗Cab：恒定濕熱試驗方法； GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件；
GB/T2423.4-2008 試驗Db：交變濕熱試驗方法； GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；
GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法； GJB150.3 高溫試驗；
IEC60068-2-1：2007 低溫試驗箱試驗方法； GJB150.4 低溫試驗；
IEC60068-2-2：2007 高溫試驗箱試驗方法； GJB150.9 濕熱試驗；
IEC68-2-1 試驗A：寒冷； IEC68-2-2 試驗B：干熱；

三、快速溫變濕熱試驗箱 - 規(guī)范要求

1、可設定多種應力篩選(快溫變率)5℃～25℃/min線性及非線性的試驗條件.
2、MIL-344A-4-16、MIL-2164A-19、NABMAT-9492、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、IPC-9701...等試驗要求.
3、快速溫變試驗箱可執(zhí)行等均溫與平均溫試驗方式.
4、溫度應力篩選試驗箱ESS采用鋁片驗證機臺負載能力(非塑料負載).
四、快速溫變濕熱試驗箱 - 設備特點
1、優(yōu)化設計,省空間,狹小的實驗室都能放置.
2、大視窗觀察窗口,產品試驗可視化更強.
3、蓄水量大試驗時間長,抽屜式結構設計方便清洗.
4、多重安全保護措施,確保樣品及設備安全。
5、快速溫變試驗箱操作簡單,易維護.

五、快速溫變濕熱試驗箱 - 冷凍系統(tǒng)
1、采用原裝歐美進口壓縮機,質量可靠,性能穩(wěn)定.
2、模塊化制冷系統(tǒng),效率高,安裝維護方便.
3、采用水浸查漏方法,查漏*,杜絕潛在泄露問題.
4、快速溫變試驗箱采用美國杜邦R404A,R23環(huán)保冷媒,無污染.
5、制冷系統(tǒng),電控系統(tǒng)多項安全保護機制.