￥面議
上海量博實業(yè)有限公司
免費(fèi)會員TrackScan-P42思看跟蹤式三維掃描系統(tǒng)
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號
- 品牌
- 其他 廠商性質(zhì)
- 上海市 所在地
訪問次數(shù)：251更新時間：2022-06-05 13:19:25
聯(lián)系我們時請說明是智能制造網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)，采用智能光學(xué)跟蹤測量技術(shù)，配備高品質(zhì)光學(xué)設(shè)備，無需貼點即可完成高精度動態(tài)三維測量，可應(yīng)用于質(zhì)量控制、產(chǎn)品開發(fā)、逆向工程等多個方面。
基于不同的掃描場景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，高效靈活；7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)；單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。
TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測量光筆T-Probe，可精準(zhǔn)獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點云數(shù)據(jù)。還可以提供開發(fā)接口，與機(jī)器人協(xié)同工作，實現(xiàn)智能在線批量自動化三維檢測。
基于不同的掃描場景需求，TrackScan-P42可自由切換多種工作模式。34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，高效靈活；7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)；單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù)。
TrackScan-P42可搭配便攜式CMM測量光筆T-Probe，可精準(zhǔn)獲取工件縫隙、孔位、凹槽等復(fù)雜處的高精密點云數(shù)據(jù)。還可以提供開發(fā)接口，與機(jī)器人協(xié)同工作，實現(xiàn)智能在線批量自動化三維檢測。
| 無需貼點 智能追蹤 基于智能光學(xué)跟蹤測量技術(shù)，TrackScan-P42跟蹤式三維掃描系統(tǒng)無需貼點，即刻掃描，大幅提升工作效率、降低人力物力成本 | 高效 無懼細(xì)節(jié) 34束交叉藍(lán)色激光超快掃描，掃描速度1,900,000次測量/秒，7束平行藍(lán)色激光精細(xì)掃描，細(xì)節(jié)，單束藍(lán)色激光掃描，迅速獲取深孔及死角位置三維數(shù)據(jù) |
 |  |
| 適應(yīng)力 環(huán)境感知度 輕松獲取光亮、黑色材質(zhì)物體三維數(shù)據(jù)；不易受環(huán)境、震動、溫度等外界因素影響 | 無線光筆 測量不局限 便攜式CMM測量光筆T-Probe，單點重復(fù)性0.030 mm，用于獲取基準(zhǔn)孔、隱藏點等關(guān)鍵部位 |
 |  |
| 動態(tài)參考 實時追蹤 利用動態(tài)參考功能，TrackScan-P42能在E-Track或物體移動中正常工作，并實時獲取物體完整三維數(shù)據(jù) | 測量范圍自由擴(kuò)展 通過調(diào)整E-Track光學(xué)跟蹤器的位置，可對測量范圍自由靈活地擴(kuò)展，且始終保持穩(wěn)定的高精度 |
 |  |
| 復(fù)合定位 精準(zhǔn)捕捉 支持光學(xué)跟蹤和標(biāo)記點跟蹤兩種模式，可根據(jù)現(xiàn)場工作情況靈活切換 | 航空航天級碳纖維材質(zhì) TrackScan-P42掃描儀采用一體式結(jié)構(gòu)設(shè)計，航空航天級碳纖維材料，堅固耐用 |
 |  |
******技術(shù)參數(shù)******
型號 | TrackScan-P42 | |
| 掃描模式 | 高速掃描 | 34束交叉藍(lán)色激光線 |
| 精細(xì)掃描 | 7束平行藍(lán)色激光線 | |
| 深孔掃描 | 額外1束藍(lán)色激光線 | |
| 激光線數(shù)合計 | 42束 | |
| 精度 | 0.025 mm | |
| *高掃描速率 | 1,900,000 次測量/秒 | |
| *大掃描面幅 | 310 mm × 350 mm | |
| 激光類別 | ClassⅡ（人眼安全） | |
| *小分辨率 | 0.020 mm | |
| 體積精度 (單獨(dú)使用掃描儀) | 9.1m3 | 0.064 mm |
| 16.6m3 | 0.078 mm | |
| 體積精度 (配合MSCAN-L15全局?jǐn)z影測量系統(tǒng)) | 0.044 mm + 0.015 mm/m | |
| T-Probe光筆 | 是否選配 | 選配 |
| 單點重復(fù)性 | 0.030 mm | |
| 掃描物體尺寸范圍 （建議） | 200 ~ 6000 mm | |
| 基準(zhǔn)距 | 300 mm | |
| 景深 | 320 mm | |
| 輸出格式 | .stl, .ply, .obj, .igs, wrl, .xyz, .dae, .fbx, .ma, .asc等，可定制 | |
| 工作溫度 | 5~40°C | |
| 接口方式 | USB 3.0 | |
相關(guān)產(chǎn)品
