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HDD / SSD燒錄設(shè)備量產(chǎn)型高速通用檢測設(shè)備
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- HDD / SSD燒錄設(shè)備 產(chǎn)品型號
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訪問次數(shù)：69更新時(shí)間：2022-05-01 10:00:36
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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)品介紹
詳情介紹：
該系統(tǒng)是一個(gè)。
* 如果您想進(jìn)行低溫測試，請隨時(shí)與我們聯(lián)系。
【支持接口】
- PCIe Gen4
-
PCIe 第三代
- SATA III
- SAS II（選項(xiàng)）
[支持協(xié)議]
- NVMe 1.4
- NVMe 1.3
- AHCI
【支持SSD類型】
- 附加卡
- M.2
- U.2
- EDSFF
采用
SSD產(chǎn)品評估
該系統(tǒng)是一個(gè)緊湊型系統(tǒng)，用于對具有各種接口的 SSD 進(jìn)行老化測試。
* 如果您想進(jìn)行低溫測試，請隨時(shí)與我們聯(lián)系。
【支持接口】
- PCIe Gen4
- PCIe 第三代
- SATA III
- SAS II（選項(xiàng)）
[支持協(xié)議]
- NVMe 1.4
- NVMe 1.3
- AHCI
【支持SSD類型】
- 附加卡
- M.2
- U.2
- EDSFF
采用
SSD產(chǎn)品評估
*多可同時(shí)測試 96 個(gè)單元。
溫度范圍廣（常溫至+75°C）。
驅(qū)動器接口*高支持 PCIe Gen3 / NVMe 1.3。
驅(qū)動器有兩個(gè)電源（3.3V、12V）。
每個(gè)端口和系統(tǒng)都可以進(jìn)行獨(dú)立控制以及電壓和電流測量。
可以執(zhí)行同步溫度控制和接口測試的測試。
可以使用與 SMART TESTER for PCIe 相同的腳本和可選軟件。
安裝在端口上的 LED 可用于確定測試狀態(tài)和結(jié)果。
支持 SSD 低功耗模式 (L1.2) 下的微小電流測量（測量精度：± 5% rdg. ± 10dgt .: 100μA 至 1mA）。
端口數(shù)量、溫度范圍等可定制。
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