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昆山友碩新材料有限公司
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產(chǎn)品型號Crossbeam
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地蘇州市
聯(lián)系方式：魏先生查看聯(lián)系方式
更新時間：2019-09-12 16:42:45瀏覽次數(shù)：791次
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蔡司離子束掃描電子顯微鏡rossbeam 優(yōu)勢說明：
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設(shè)備上實現(xiàn)多用戶同時操作。
詳細說明：
?蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場
蔡司掃描電子顯微鏡rossbeam 優(yōu)勢說明：
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設(shè)備上實現(xiàn)多用戶同時操作。
詳細說明：
蔡司離子束掃描電子顯微鏡Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。
無論是在科研或是工業(yè)實驗室，您都可以在一臺設(shè)備上實現(xiàn)多用戶同時操作。
得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設(shè)計理念，您可以根據(jù)自己需求的變化隨時升級儀器系統(tǒng)。
在加工、成像或是實現(xiàn)三維重構(gòu)分析時，Crosssbeam系列都將大大提升您的應(yīng)用體驗。
使用Gemini電子光學(xué)系統(tǒng)，您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息
使用新的Ion-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量、降低樣品損傷，同時大大加快實驗操作過程
使用Ion-sculptor FIB的低電壓功能，您可以制備超薄的TEM樣品，同時將非晶化損傷降到非常低
使用Crossbeam 340的可變氣壓功能
或使用Crossbeam 550實現(xiàn)更苛刻的表征，大倉室甚至為您提供更多選擇
EM樣品制備流程
按照以下步驟，高效率、高質(zhì)量地完成制樣
Crossbeam 為制備超薄、高質(zhì)量的TEM樣品提供了一整套解決方案，您可以高效地準(zhǔn)備樣品，并在TEM或STEM上實現(xiàn)透射成像模式的分析。
1.自動——感興趣的區(qū)域(ROI)輕松導(dǎo)航
您可以不費功夫地找到感興趣的區(qū)域(ROI)
使用樣品交換室的導(dǎo)航相機對樣品進行
集成的用戶界面使得您可以輕松到ROI
在SEM上獲得寬視野、無畸變的圖像
2. 自動制樣——從體材料開始制備薄片樣品
您可以通過簡單的三個步驟制備樣品：ASP(自動樣品制備)
定義參數(shù)包括漂移修正，表面沉積以及粗切、精細切割
FIB鏡筒的離子光學(xué)系統(tǒng)保證了工作流程具有*的通量
將參數(shù)導(dǎo)出為副本，進而可以重復(fù)操作實現(xiàn)批量制備
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