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          西安立鼎光電科技有限公司

          中級(jí)會(huì)員·8年

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          光電探測器

          高品質(zhì)相機(jī)

          激光測距系列

          通用測試測量儀器設(shè)備

          專用測試設(shè)備

          目標(biāo)模擬器

          光纖滑環(huán)

          微光管

          光學(xué)鏡頭及附件

          THz系列

          紅外熱像儀及組件

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          • 膜厚測量---高光譜的優(yōu)勢

            厚度是評(píng)價(jià)薄膜和涂層的關(guān)鍵質(zhì)量參數(shù),厚度和均勻性影響著薄膜的性能,以制備膜層的研究人員需要對其準(zhǔn)確檢測。目前常用的檢測技術(shù)是X射線技術(shù)和光譜學(xué)技術(shù),尤其是光譜學(xué)技術(shù),被廣泛應(yīng)用于膜層制備檢測工藝當(dāng)中。厚度檢測使用的點(diǎn)傳感器,通常被安裝在橫向掃描平臺(tái)上,從而形成鋸齒形檢測模式,由下圖可以看出,這種檢測技術(shù)無法對薄膜進(jìn)行全面檢測。而陣列式的高光譜相機(jī)(推掃式)可以克服這一限制并檢測整個(gè)膠片或涂層。每次采集一行數(shù)據(jù)信息,再以高空間分辨率生成整個(gè)膠片寬度上的光譜數(shù)據(jù)。為了演示該應(yīng)用中的高光譜成像,Spe
          • 高光譜相機(jī)的應(yīng)用

            厚度是評(píng)價(jià)薄膜和涂層的關(guān)鍵質(zhì)量參數(shù),厚度和均勻性影響著薄膜的性能,以制備膜層的研究人員需要對其準(zhǔn)確檢測。目前常用的檢測技術(shù)是X射線技術(shù)和光譜學(xué)技術(shù),尤其是光譜學(xué)技術(shù),被廣泛應(yīng)用于膜層制備檢測工藝當(dāng)中。厚度檢測使用的點(diǎn)傳感器,通常被安裝在橫向掃描平臺(tái)上,從而形成鋸齒形檢測模式,由下圖可以看出,這種檢測技術(shù)無法對薄膜進(jìn)行全面檢測。而陣列式的高光譜相機(jī)(推掃式)可以克服這一限制并檢測整個(gè)膠片或涂層。每次采集一行數(shù)據(jù)信息,再以高空間分辨率生成整個(gè)膠片寬度上的光譜數(shù)據(jù)。為了演示該應(yīng)用中的高光譜成像,Spe
          • 高光譜相機(jī)在薄膜厚度檢測上的應(yīng)用

            厚度是評(píng)價(jià)薄膜和涂層的關(guān)鍵質(zhì)量參數(shù),厚度和均勻性影響著薄膜的性能,以制備膜層的研究人員需要對其準(zhǔn)確檢測。目前常用的檢測技術(shù)是X射線技術(shù)和光譜學(xué)技術(shù),尤其是光譜學(xué)技術(shù),被廣泛應(yīng)用于膜層制備檢測工藝當(dāng)中。厚度檢測使用的點(diǎn)傳感器,通常被安裝在橫向掃描平臺(tái)上,從而形成鋸齒形檢測模式,由下圖可以看出,這種檢測技術(shù)無法對薄膜進(jìn)行全面檢測。而陣列式的高光譜相機(jī)(推掃式)可以克服這一限制并檢測整個(gè)膠片或涂層。每次采集一行數(shù)據(jù)信息,再以高空間分辨率生成整個(gè)膠片寬度上的光譜數(shù)據(jù)。為了演示該應(yīng)用中的高光譜成像,Spe
          • 高光譜成像技術(shù)在薄膜厚度檢測上的應(yīng)用

            厚度是評(píng)價(jià)薄膜和涂層的關(guān)鍵質(zhì)量參數(shù),厚度和均勻性影響著薄膜的性能,以制備膜層的研究人員需要對其準(zhǔn)確檢測。目前常用的檢測技術(shù)是X射線技術(shù)和光譜學(xué)技術(shù),尤其是光譜學(xué)技術(shù),被廣泛應(yīng)用于膜層制備檢測工藝當(dāng)中。厚度檢測使用的點(diǎn)傳感器,通常被安裝在橫向掃描平臺(tái)上,從而形成鋸齒形檢測模式,由下圖可以看出,這種檢測技術(shù)無法對薄膜進(jìn)行全面檢測。而陣列式的高光譜相機(jī)(推掃式)可以克服這一限制并檢測整個(gè)膠片或涂層。每次采集一行數(shù)據(jù)信息,再以高空間分辨率生成整個(gè)膠片寬度上的光譜數(shù)據(jù)。為了演示該應(yīng)用中的高光譜成像,Spe
          • 短波紅外穿透煙、霧、霾成像

            短波紅外的成像原理與可見光十分相似,不同的是短波紅外的波長可以“繞過”煙、霧、霾中的細(xì)小顆粒;相比中波紅外、長波紅外,短波紅外擁有更好的細(xì)節(jié)分辨和解析能力,能夠很好的識(shí)別出該目標(biāo)是什么。這就使得短波紅外在霧霾、煙霧以及海上的高濕度環(huán)境下,仍可對物體清晰成像。以下是使用我司的短波紅外相機(jī)拍攝的視頻。地點(diǎn):西安市太白南路263號(hào)SWIR相機(jī):西安立鼎光電LD-SW6401715-UC鏡頭:200mm焦距SWIR鏡頭觀測對象:透過霧霾觀測30km外的南山及空中飛過的鳥群
          • 深度制冷CCD相機(jī)在化學(xué)發(fā)光成像中的應(yīng)用

            生物機(jī)體在熱應(yīng)激(或其他應(yīng)激)狀態(tài)下所表現(xiàn)的以基因表達(dá)變化為特征的防御適應(yīng)反應(yīng)稱為熱休克反應(yīng)(heatshockresponse,HSR)。而在熱應(yīng)激(或其他應(yīng)激)時(shí)新合成或者合成增多的一組蛋白質(zhì)稱為熱休克蛋白(heatshockprotein,HSP)。熱休克蛋白HeatShockProteins(HSPs),是在從細(xì)菌到哺乳動(dòng)物中廣泛存在一類熱應(yīng)激蛋白質(zhì)。當(dāng)有機(jī)體暴露于高溫的時(shí)候,就會(huì)由熱激發(fā)合成此種蛋白,來保護(hù)有機(jī)體自身。許多熱休克蛋白具有分子伴侶活性。按照蛋白的大小,熱休克蛋白共分為五類
          • 短波紅外相機(jī)在半導(dǎo)體中的應(yīng)用

            半導(dǎo)體是指常溫下導(dǎo)電性能介于導(dǎo)體與絕緣體之間的材料。半導(dǎo)體在消費(fèi)電子、通信系統(tǒng)、醫(yī)療儀器等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用。無論從科技或是經(jīng)濟(jì)發(fā)展的角度來看,半導(dǎo)體的重要性都是非常巨大的。現(xiàn)如今大部分的電子產(chǎn)品,如計(jì)算機(jī)或是數(shù)字錄音機(jī)當(dāng)中的核心單元都和半導(dǎo)體有著極為密切的關(guān)聯(lián)。常見的半導(dǎo)體材料有硅、鍺、砷化鎵等,而硅更是各種半導(dǎo)體材料中,在商業(yè)應(yīng)用上有影響力的一種。純凈的硅錠在室溫下是透明的,而摻雜型的硅錠在室溫下是不透明的,并且隨著溫度的升高,不透明度也隨之升高;短波紅外相機(jī)的感光范圍是900-1700nm,而
          • 短波紅外成像應(yīng)用—偽裝識(shí)別

            在邊境口岸,機(jī)場等入境點(diǎn),為增加其安全性,生物識(shí)別技術(shù)將發(fā)揮重要作用。指紋和其他直接接觸的手段將成為終的個(gè)人標(biāo)識(shí)符。然而,目前,指紋數(shù)據(jù)庫的有效性是受制于數(shù)據(jù)庫的大小,以及獲得有效指紋的難度。因此,目前大多數(shù)的識(shí)別都是通過使用面部識(shí)別和照片匹配完成通關(guān)。短波紅外成像的一個(gè)*之處是材料鑒別能力。天然和人造材料在短波紅外光譜中表現(xiàn)的截然不同。例如頭發(fā)在可見光成像中表現(xiàn)是黑色,在短波紅外圖像中表現(xiàn)出白色。而假發(fā)在可見光和短波紅外成像中均表現(xiàn)為黑色。示例一、真假發(fā)鑒別短波紅外另一個(gè)優(yōu)勢是透shi有色眼鏡
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