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          可編程高低溫老化試驗設(shè)備

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          • 可編程高低溫老化試驗設(shè)備

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          • 所在地 深圳市

          在線詢價 收藏產(chǎn)品 加入對比

          更新時間:2018-08-31 16:32:50瀏覽次數(shù):385

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          產(chǎn)品簡介

          可編程高低溫老化試驗設(shè)備廣泛用于航空、航天、信息、電子、儀器儀表等行業(yè)作電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等的高低溫交變,以便對試品在給定環(huán)境條件下的行為性能作出評價。

          詳細(xì)介紹

          一、可編程高低溫老化試驗設(shè)備技術(shù)參數(shù)

          型號:JR-GD-80/JR-GD-150/JR-GD-225/JR-GD-408/JR-GD-800/JR-GD-1000
          內(nèi)箱尺寸(W×H×D)cm:80L:40×50×40; 150L:50×60×50; 225L:50×75×60;408L:60×85×80;800L:100×100×80;1000L:100×100×100;備注更多非標(biāo)尺寸可來電杰瑞非標(biāo)定制。
          外形尺寸約(W×H×D)cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165;備注:非標(biāo)設(shè)備的外形尺寸請以實際尺寸為準(zhǔn)。
          容積(L) :80L,150L,225L,408L,:800L,1000型可選擇,如果不知道選擇多大的合適請把自家測試物的尺寸告知杰瑞生產(chǎn)廠家業(yè)務(wù)員劉琳幫忙推薦zui合適的尺寸及型號及尺寸。
          溫度笵圍:0℃、-20℃、-40℃、-70℃~150℃
          濕度笵圍 :20%~98%RH(可根據(jù)客戶要求定做:低濕型可達(dá)到5%RH或更高)
          升降溫速率:RT<----->150℃ 約35分鐘(非線性空載,約3.0℃/分鐘)
          RT<----->-20℃ 約45分鐘(非線性空載,約1.0℃/分鐘)
          溫度分布均度 :±2℃
          溫度穩(wěn)定度:±0.5℃
          濕度分布均度:±3%

          二、可編程高低溫老化試驗設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn)

          ·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
          ·GB/T10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
          ·GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件
          ·GB/T2423.1-2008低溫試驗Aa,Ab
          ·GB/TT2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法.
          ·GB/T2423.3-2006(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗Ca
          ·MIL-STD810D方法502.2
          ·GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3
          ·GJB150.9-1986設(shè)備環(huán)境試驗方法-濕熱試驗
          ·GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗

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