H型XRF-2000鍍層測厚儀

XRF-2000H型韓國鍍層測厚儀:測量樣品高12cm內(nèi)

MicropioneerXRF-2020電鍍測厚儀:檢測電鍍層測厚儀

XRF-2020鍍層測厚儀X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析

XRF-2020鍍層測厚儀

產(chǎn)地：韓國

品牌：Micro Pioneer 

系列型號(hào)：

XRF-2020H 

XRF-2020L

XRF-2020PCB

XRF-2020鍍層測厚儀三款型號(hào)

不同型號(hào)各種功能一樣

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求

韓國Micro Pioneer XRF-2000測厚儀?型號(hào)介紹

XRF-2020H型鍍層測厚儀:測量樣品高度不超過12cm

XRF-2020L型電鍍測厚儀:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2020PCB型電鍍膜厚儀:測量樣品高度不超3cm

韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測厚儀

檢測:鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍銅,鍍鋅,鍍錫,及各種合金鍍層等

可測單層,雙層,多層,合金鍍層,
測量范圍:0.03-35um
測量精度:±5%,測量時(shí)間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)對(duì)焦，操作非常方便簡單

測量時(shí)間：10－30秒

精度控制：
 

*層：±5%以內(nèi)
第二層：±8%以內(nèi)
第三層：±12%以內(nèi)

韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測厚儀

韓國Micro Pioneer 先鋒XRF-2020測厚儀

可測試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

單層:如各種底材上鍍鎳,鍍鋅,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍金等

雙層:如銅上鍍鎳再鍍金,銅上鍍鎳再銀,鐵上鍍銅再鍍鎳等

多層:如ABS上鍍銅鍍鎳再鍍鉻,鐵上鍍銅鍍鎳,再鍍金等

合金鍍層:如鐵上鍍錫銅等

H型XRF-2000鍍層測厚儀:容納樣品高12cm內(nèi)