韓國(guó)XRF-2000測(cè)厚儀

可測(cè)六層.誤差大約如下:

*層(5%).

第二層(8%).

第三層(15%).

第四層(20%).

第五層(25%)

第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.

以下是一些應(yīng)用參考.

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀可測(cè)範(fàn)圍

Au 0.4-120uinch. Ni 10-400uinch.

Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch

Sn 100% 40-3500uinch. 

Sn 60% 40-1500uinch. 

Sn 90% 40-2000uinch

Au 0.5-320uinch

Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch

Sn 40-2500uinch.

Ag: 0.5-500uinch

韓國(guó)先鋒XRF2000鍍層測(cè)厚儀

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀共分三種型號(hào)

不同型號(hào)各種功能一樣

機(jī)箱容納樣品大小有以下不同要求

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀型號(hào)介紹

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀H型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)10cm

XRF-2000電鍍測(cè)厚儀L型:測(cè)量樣品高度不超過(guò)3cm

XRF-2000電鍍膜厚儀PCB型:測(cè)量樣品高度不超3cm(開(kāi)放式設(shè)計(jì),可檢測(cè)大型樣品

檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...

儀器功能

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）

測(cè)量樣品高度不超過(guò)4cm(亦有10CM可選)

鍍層厚度測(cè)試范圍：0.04－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度

每層鍍層都可分開(kāi)顯示各自厚度.

測(cè)量時(shí)間：10－30秒

精度控制：

     *層：±5%以?xún)?nèi)

     第二層：±8%以?xún)?nèi)

     第三層：±12%以?xún)?nèi)

XRF2000電鍍鍍層測(cè)厚儀/電鍍膜厚測(cè)試儀

XRF2000鍍層測(cè)厚儀,提供金屬鍍層厚度的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*,而且價(jià)錢(qián)*

同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果

甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線(xiàn)自動(dòng)調(diào)整。超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái)，

可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線(xiàn)路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的*?？蓽y(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度等。

可測(cè)元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U） 原子序 22 – 92

準(zhǔn)直器：固定種類(lèi)大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選圓形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm

電腦系統(tǒng)：

電腦,液晶顯示器，

彩色打印機(jī)

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能