BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：熱電材料，Seebeck系數(shù)，電導(dǎo)率， 電阻率，V-1裝置

產(chǎn)品介紹：

 BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀是我國(guó)熱電材料的設(shè)備，是材料計(jì)劃中前沿裝備，其測(cè)試性能遠(yuǎn)超越外熱電材料測(cè)試儀，不僅可以用于塊體材料同時(shí)也可以用于薄材料的測(cè)試，是目前高等院校和材料研究所的重要設(shè)備。

對(duì)于熱電材料的研究，熱電性能測(cè)試是*的試驗(yàn)數(shù)據(jù)。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率。主要原理和特點(diǎn)如下: 

該裝置由，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構(gòu)成。通過(guò)PID程序控溫，采用四點(diǎn)法的方式測(cè)定半導(dǎo)體材料及熱電材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

一、BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀適用范圍：

1、地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

5、擁有自身分析軟件，分析，過(guò)程自動(dòng)控制，界面友好。

6、高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領(lǐng)域、熱電制冷.
8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域。

二、BKTEM-Dx熱電材料性能測(cè)試儀技術(shù)特點(diǎn)：

·解決高溫下溫控精度不準(zhǔn)的問(wèn)題，靜態(tài)法測(cè)量更加直觀的了解產(chǎn)品熱電材料的真正表征物理屬性。

· 溫度檢測(cè)可采用J、K型熱電偶，降低測(cè)試成本。

·試樣采用*的焊偶機(jī)構(gòu)，保證接觸電阻小以及測(cè)量結(jié)果的高重現(xiàn)性。

· 每次可測(cè)試1-3個(gè)樣品.

· 采用數(shù)據(jù)采集技術(shù)，避免電路板數(shù)據(jù)采集技術(shù)帶來(lái)的干擾誤差，可控溫場(chǎng)下同步測(cè)量賽貝克系數(shù)和電阻率。 

三：主要技術(shù)：

測(cè)量溫度 室溫-600℃
同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量 1個(gè)
測(cè)量功能 賽貝克系數(shù)和電阻率，薄膜材料的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率
控溫精度 0.5K
測(cè)量原理 塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電；電阻系數(shù)：四端法
測(cè)量精度 塞貝克系數(shù)：＜±7％；電阻系數(shù)：＜±10％
樣品尺寸 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導(dǎo)距 ≥6 mm 
電   流 0 to 160 mA
氣   氛 高純度氬氣
加熱電相數(shù)/電壓 單相，220V，